偏光顯微鏡Axio Imager

不同種主機架可供選擇

編碼型、部分電動型或全電動型主機組合搭配，滿足您的個性化需求。

自動組件識別技術值得信賴

自動組件識別技術，使您方便的使用顯微鏡設置。所有電動主機架能夠自動識別物鏡。

此外，ACR 技術還能在全電動 Z 系列主機中識別反射光模塊。系統(tǒng)能自動對組件的變換進行登記。

無振動設計確保可靠的長時間成像

借助 Axio Imager 出色的穩(wěn)定性得以實現可隨時間變化的測量和高放大倍率觀察。

物鏡轉盤、z 軸升降臺和載物臺被設計為一個緊湊式無振動單元，獨立于主機架的其余部分。

這種所謂的 "stable cell" 結構設計能夠創(chuàng)建理想的測量條件，以獲得超高質量的觀測結果。

擴展功能令操作更舒適

簡化復雜程序。通過主機架或外置工作站上的觸摸屏來控制全部電動化組件。

保存?zhèn)€性化設置并實現一鍵還原。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學設計的觸控式按鈕。

或者通過任意擺放的控制面板（可完全與主機架分離）來操作偏光顯微系統(tǒng)。

觀察方式和光路管理器能夠自動選擇合適的設置，以生成可重現且可靠的觀測結果。

錐光觀察技術：使用偏光顯微鏡可以實現快速可靠的晶體結構分析

偏光顯微鏡能夠同時采集無畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設計的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準線和可變光闌同時可見。

通過調節(jié)型可變光闌能夠將錐光觀測范圍縮小至 10μm 的晶體粒度。

已對中的 Bertrand 光路方便開關。這一特性讓您在不同技術之間進行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設備時。

始終如一的測量性能

借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標尺的旋轉、球軸安裝式載物臺可以輕松實現測量，（例如：用于測量礦物的解理角）

光程差測定或應變測量

大量光譜補償器可選，涵蓋從 0 至 30 λ 的測量范圍。

固定光程差的補償器

全波片 λ

四分之一波片 λ / 4

全波片 λ，可旋轉角度 +/- 8°

具有可變光程差的補償器

光楔補償器 0-4 λ

測量補償器

Berek 傾斜補償器 0-5 λ

Berek 傾斜補償器 0-30 λ